Surtronic DUO|泰勒霍普森粗糙度儀

Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度儀技術(shù)指標(biāo)：     

量    程：200um    

行    程：5mm    

取樣長度：0.8mm+/-15%    

參    數(shù)：Ra：0.1um-40um

     Rz：0.1um-199um     

精    度：Ra:0.1um

     Rz:0.1um    

檢測(cè)方式：壓電式    

尺    寸：125＊80＊38mm    

重    量：200g

Surtronic DUO|泰勒霍普森粗糙度儀

英國泰勒公司Surtronic ® Duo粗糙度儀是一種便攜式表面粗糙度測(cè)量儀，只需按一鍵即可測(cè)量多個(gè)粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會(huì)顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進(jìn)行快速、輕松和的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。測(cè)量原理通過采用耐磨的金剛石測(cè)針部件，以及精密的機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測(cè)針劃過波峰和波谷時(shí)，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測(cè)到它的垂直移動(dòng)，然后將機(jī)械移動(dòng)轉(zhuǎn)化為電子信號(hào)。電子信號(hào)將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算表面粗糙度參數(shù)