EPK MINITEST2100北京代理測(cè)厚儀

EPK MINITEST2100北京代理測(cè)厚儀

EPK MINITEST2100校準(zhǔn)方式 ：
MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準(zhǔn)方式：
標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):適合平整光滑的表面和大致的測(cè)量。例如，低于一點(diǎn)校準(zhǔn)精度要求的場(chǎng)合。
一點(diǎn)校準(zhǔn):置零，不用標(biāo)準(zhǔn)箔。用于允許誤差超過3%的場(chǎng)合。
二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用一片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于誤差范圍在1-3%(*大)之間的測(cè)量。探頭誤差范圍應(yīng)另考慮。
二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用二片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于以下場(chǎng)合:
 A). 在粗糙表面測(cè)讀;
 B). 厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的精確測(cè)量。
透過厚度未知涂層的校準(zhǔn):用箔校準(zhǔn)(僅適用于F06、F1.6、F3、作F用的FN2測(cè)頭,以及F1.6/90、F2/90、F10、F20、F50探頭)。
在校準(zhǔn)時(shí)，沒有無涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當(dāng)采用此法校準(zhǔn)。
注意:校準(zhǔn)箔是指所有的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，包括2mm，5mm，10mm厚的標(biāo)準(zhǔn)板。

德國(guó)EPK MiniTest2100涂鍍層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)：
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車制造、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設(shè)、大學(xué)和其他研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評(píng)估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動(dòng)精益求精。