電子行業(yè)連接器和觸點(diǎn)上的鍍層厚度測量

電子行業(yè)連接器和觸點(diǎn)上的鍍層厚度測量

菲希爾x-ray鍍層分析儀/射線熒光鍍層測厚材料分析儀/x射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動調(diào)整的多個(gè)準(zhǔn)直器和基本濾片。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。菲希爾x射線測厚儀FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的精-確性和良的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器，節(jié)省時(shí)間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下行分析和測量。

菲希爾代理從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領(lǐng)域發(fā)展出創(chuàng)新型的測量技術(shù)。如今，菲希爾的測量技術(shù)已在世界各地得到應(yīng)用，滿足客戶對儀器準(zhǔn)確度、精度和可靠性的要求。目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE X-RAY品牌也已成為強(qiáng)大，可靠和耐用的X射線熒光測量設(shè)備的代名詞。

菲希爾測厚儀原理：

fischer x射線測厚儀X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象：樣品材料中的原子由于受到初級X射線轟擊，從而失去內(nèi)層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填補(bǔ)，在填補(bǔ)的過程中，會產(chǎn)生每個(gè)元素*的特征X射線熒光。接收器探測到該熒光射線后，便能提供樣品的材料組成等信息。

菲希爾x射線測厚儀應(yīng)用

電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產(chǎn)的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護(hù)

電鍍液中金屬含量的分析

裝飾性涂層 Cr/Ni/Cu/ABS

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