fischer x熒光射線分析儀XAN252

fischer x熒光射線分析儀XAN252

菲希爾XAN252特點：
fischerscopexan252高性能機型，具有強大的綜合測量能力；
fischerscopexan252配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片；
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析；
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位。  
菲希爾測厚儀典型應用領域：
fischer測厚儀對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量；
fischer測厚儀對有害物質(zhì)進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量；
在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析；
用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域。

XAN 500型X射線熒光測厚儀
產(chǎn)品用途
在生產(chǎn)過程中，實時檢測鍍層厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）
可便捷且穩(wěn)定地測量大尺寸部件，如管道、外殼或機械零件。
將儀器放置到測量箱中，XAN500即成為全功能的臺式儀器，可地測量小尺寸零件，如螺母和螺栓
還可整合到生產(chǎn)線的控制系統(tǒng)中，可以實現(xiàn)的質(zhì)量監(jiān)控
產(chǎn)品特點：
手持式便攜X射線熒光儀器
為鍍層厚度測量和合金分析而優(yōu)化
3點支撐，保證每次測量時的位置準確
帶有WinFTM軟件的平板電腦 (平板電腦可單獨購買)
藍牙接口
可選的測試箱