菲希爾X熒光射線測(cè)厚儀，XDL系列

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是德國菲希爾公司生產(chǎn)的一款高精度、能量色散型X射線熒光（EDXRF）測(cè)厚與材料分析儀。該系列儀器基于廣泛應(yīng)用的XDL-B型升級(jí)而來，適用于鍍層厚度測(cè)量、材料成分分析及電鍍液分析，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、來料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

主要特點(diǎn)

無損檢測(cè)：對(duì)樣品無損傷，適合精密零部件和批量生產(chǎn)檢測(cè)。

無需標(biāo)準(zhǔn)片：采用基本參數(shù)法（Fundamental Parameters Method），可在無標(biāo)準(zhǔn)樣品的情況下進(jìn)行精確測(cè)量。

元素測(cè)量范圍：可檢測(cè)從氯（Cl, 原子序數(shù)17）到鈾（U, 原子序數(shù)92） 的元素。

測(cè)量距離靈活：支持0–80 mm的測(cè)量距離，配備DCM（Distance Compensation Method）測(cè)量距離補(bǔ)償技術(shù)，確保在不同距離下測(cè)量精度穩(wěn)定。

高分辨率成像：內(nèi)置高分辨率CCD彩色攝像頭，便于精確定位測(cè)量區(qū)域。

堅(jiān)固設(shè)計(jì)：C型開槽大容量測(cè)量艙，適合大型或復(fù)雜形狀工件。